英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面,膜厚儀EDX8000TPlus,可以輕松地進行日常測量。
使用注意事項編輯 語音測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。測量注意事項:⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層,如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層
>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
鎮(zhèn)江膜厚儀EDX8000TPlus-英飛思科學(xué)儀器公司由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為客戶提供“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”等業(yè)務(wù),公司擁有“英飛思”等品牌,專注于分析儀器等行業(yè)。,在蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室的名聲不錯。歡迎來電垂詢,聯(lián)系人:張經(jīng)理。溫馨提示:以上是關(guān)于鎮(zhèn)江膜厚儀EDX8000TPlus-英飛思科學(xué)儀器公司的詳細介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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